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Resultados para Editorial: Wiley (11 a 20 de más de 200)
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Título | Level Up! The Guide To Great Video Game Design, 2nd Edition | Precio | $517.74 |
| Autor | Scott Rogers | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Diseño, Programacion, Programas Computacionales | ISBN | 9781118877166 |
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Título | Difference And Excess In Contemporary Art | Precio | $399.90 |
| Autor | Perry Gil | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Arte, Contemporaneo, Mujeres | ISBN | 9781405112024 |
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Título | Fundamentals And Applications Of Organic Electrochemistry: Synthesis, Materials, | Precio | $1800.00 |
| Autor | Toshio Fuchigami, Mahito Atobe, Shinsuke Inagi | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Quimica | ISBN | 9781118653173 |
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Título | Trillion Dollar Economists: How Economists And Their Ideas Have Transformed Busi | Precio | $460.32 |
| Autor | Robert E. Litan | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Negocios, Economia, Finanzas | ISBN | 9781118781807 |
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Título | Interactive Open Educational Resources | Precio | $684.00 |
| Autor | Shank John D. | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | ||
| Tema | Educación | ISBN | 9781118277454 |
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Título | Probability And Stochastic Processes | Precio | $2784.00 |
| Autor | Yates Roy D. | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Probabilidades, Matematicas, Escuela | ISBN | 9781118324561 |
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Título | Cell And Molecular Biology | Precio | $2227.68 |
| Autor | Karp Gerald | Año | 2013 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 7ª | |
| Tema | Biologia Celular, Ciencia, Experimentos | ISBN | 9781118206737 |
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Título | Introductory Modern Algebra: A Historical Approach | Precio | $1229.80 |
| Autor | Stahl Saul | Año | 2013 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Matematicas, Algebra | ISBN | 9780470876169 |
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Título | Introduction To Logistics Systems Management | Precio | $850.00 |
| Autor | Gianpaolo Ghiani | Año | 2013 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Logistica, Ingenieria Industrial, Productividad | ISBN | 9781119943389 |
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Título | Atmospheric Pressure Plasma Treatment Of Polymers: Relevance To Adhesion | Precio | $2369.25 |
| Autor | Michael Thomas, K. L. Mittal | Año | 2013 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Polimeros, Atmosfera | ISBN | 9781118596210 |
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Autores
Adam AlexanderAgostino, R. D': P. Favia; Y.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAllison, Lizabeth A.Alspector MarcAndrés IllanesAngelescu SilviuAntonio LuqueArnér MagnusArthur GriffthAugustin, SallyAven, TerjeAxler, SheldonBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBardi James A.Benoit, William L. And Pamela J.
BenoitBiermaBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBisgaard, Soren / Kulahci, MuratBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Brown Meta SBruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangByrnes, DavidCenter For Chemical Process
SaftetyCharles PetzoldChesbrough, HenryChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristopher NegusCi SongClark, Colin W.Conover, CharlesCoolidge Frederick L/ Wynn ThomasCooper Alan/ Reimann Robert/
Cronin DavidCrabtree, Robert H.CuthbertsonDeclerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDiamond, StephanieDimmokDirk P. KroeseDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggEsty, Daniel C. ; Winston, Andrew
S.Faticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Fester Kratz, Rene; Rae Siegfried,
DonnaFinkelstein Ellen/ Leete GurdyFinnerty J. D.Fredricks, Karen; Orenstein, LonFries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGianpaolo GhianiGilat AmosGläser, Michael And Manfred
KochsiekGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Grewal S. MochinderGygi CraigHakansson H.Hanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Haugen, PeterHebeler JohnHecht JeffHiam, AlexanderHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinHuges-Hallett; Gleason; Lock;
FlathIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkIrwin, William (Series Editor) ;
White D. ; Mark; Arp, RoberJ. Crawley, MichaelJ. David LoganJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJosip LovricJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKieso WeygandtKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kotler, PhilipKourdi, JeremyKuhn HansLadefoged, Peter And Sandra
Ferrari DisnerLangton, JerryLaurence Baber, RobertLefever LeeLeng YangLevinson, Jay Conrad; Horowitz,
ShelLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lowery, JosephLucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMark S. DaskinMark T. MayburyMcneil Brian/ Harvey LindaMeier, RetoMelnick, JeffreyMichael Thomas, K. L. MittalMilsom John J.Montgomery DouglasMontgomery, Douglas C.Moudgalya, Kannan M.MwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNed MohanNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Osterwalder, Alexander; Pigneur,
YvesPaschos, Vangelis Th. (Ed.)Pearlson, Keri E. ; Carol S.
SaundersPeckol, James K.Perry GilPeter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanR. J. CollierRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRicard ReidRobert E. LitanRobin K. HarrisRodriguez, JoseRoesky W. HerbertRolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRyan, MichaelSalvendy GavrielSaul StahlSchroder, Bernd S. W.Schroeder, Carol LScott RogersSeader; Henley; RoperSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Shank John D.Silverstein, David; Philip Samuel;
Neil DecarloSmirnov, Boris M.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSosinsky BarrieStahl SaulSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTrout, JackTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWalker John R.Wangler Thomas P.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWiley E. O.Wooldridge, MichaelWu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
A. ; Mcclish, Donna K.Ziska, Lewis H. ; Dukes, Jeffrey
S.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAllison, Lizabeth A.Alspector MarcAndrés IllanesAngelescu SilviuAntonio LuqueArnér MagnusArthur GriffthAugustin, SallyAven, TerjeAxler, SheldonBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBardi James A.Benoit, William L. And Pamela J.
BenoitBiermaBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBisgaard, Soren / Kulahci, MuratBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Brown Meta SBruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangByrnes, DavidCenter For Chemical Process
SaftetyCharles PetzoldChesbrough, HenryChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristopher NegusCi SongClark, Colin W.Conover, CharlesCoolidge Frederick L/ Wynn ThomasCooper Alan/ Reimann Robert/
Cronin DavidCrabtree, Robert H.CuthbertsonDeclerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDiamond, StephanieDimmokDirk P. KroeseDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggEsty, Daniel C. ; Winston, Andrew
S.Faticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Fester Kratz, Rene; Rae Siegfried,
DonnaFinkelstein Ellen/ Leete GurdyFinnerty J. D.Fredricks, Karen; Orenstein, LonFries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGianpaolo GhianiGilat AmosGläser, Michael And Manfred
KochsiekGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Grewal S. MochinderGygi CraigHakansson H.Hanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Haugen, PeterHebeler JohnHecht JeffHiam, AlexanderHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinHuges-Hallett; Gleason; Lock;
FlathIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkIrwin, William (Series Editor) ;
White D. ; Mark; Arp, RoberJ. Crawley, MichaelJ. David LoganJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJosip LovricJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKieso WeygandtKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kotler, PhilipKourdi, JeremyKuhn HansLadefoged, Peter And Sandra
Ferrari DisnerLangton, JerryLaurence Baber, RobertLefever LeeLeng YangLevinson, Jay Conrad; Horowitz,
ShelLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lowery, JosephLucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMark S. DaskinMark T. MayburyMcneil Brian/ Harvey LindaMeier, RetoMelnick, JeffreyMichael Thomas, K. L. MittalMilsom John J.Montgomery DouglasMontgomery, Douglas C.Moudgalya, Kannan M.MwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNed MohanNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Osterwalder, Alexander; Pigneur,
YvesPaschos, Vangelis Th. (Ed.)Pearlson, Keri E. ; Carol S.
SaundersPeckol, James K.Perry GilPeter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanR. J. CollierRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRicard ReidRobert E. LitanRobin K. HarrisRodriguez, JoseRoesky W. HerbertRolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRyan, MichaelSalvendy GavrielSaul StahlSchroder, Bernd S. W.Schroeder, Carol LScott RogersSeader; Henley; RoperSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Shank John D.Silverstein, David; Philip Samuel;
Neil DecarloSmirnov, Boris M.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSosinsky BarrieStahl SaulSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTrout, JackTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWalker John R.Wangler Thomas P.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWiley E. O.Wooldridge, MichaelWu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
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Última actualización: Jul 2019