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Resultados para Editorial: Wiley (101 a 110 de más de 200)
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Título | Statistical Methods In Diagnostic Medicine, 2nd Edition | Precio | $1936.00 |
| Autor | Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy A. ; Mcclish, Donna K. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Estadistica | ISBN | 9780470183144 |
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Título | Field Geophysics | Precio | $475.48 |
| Autor | Milsom John J. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Fisica, Geofisica, Geociencias | ISBN | 9780470749845 |
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Título | Organic Chemistry | Precio | $1744.00 |
| Autor | Solomons, Graham T. W. ; Craig B. Fryhle | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | ||
| Tema | Quimica | ISBN | 9780470401415 |
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Título | Biochemistry | Precio | $1776.00 |
| Autor | Voet, Donald; Judith G. Voet | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 4ª | |
| Tema | ISBN | 9780470570951 |
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Título | Autocad 2010 For Dummies | Precio | $480.00 |
| Autor | Byrnes, David | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | ISBN | 9780470433454 |
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Título | Industrial Plasma Technology | Precio | $2816.00 |
| Autor | Kawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato; A. Matsuda; K. Uchino; M. Ku | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | ISBN | 9783527325443 |
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Título | Handbook Of Metrology (2 Vols.) | Precio | $5390.00 |
| Autor | Gläser, Michael And Manfred Kochsiek | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Ciencia | ISBN | 9783527406661 |
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Título | Valuation Measuring And Managing The Value Of Companies | Precio | $2192.00 |
| Autor | Koller, Tim; Marc Goedhart; David Wessels | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 5ª | |
| Tema | ISBN | 9780470424704 |
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Título | Intermediate Accounting | Precio | Desconocido |
| Autor | Kieso Weygandt | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | ISBN | 9780470374948 |
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Título | Separation Process Principles | Precio | $1488.00 |
| Autor | Seader; Henley; Roper | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | ||
| Tema | Ingenieria | ISBN | 9780470481837 |
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Autores
Adam AlexanderAgostino, R. D': P. Favia; Y.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAllison, Lizabeth A.Alspector MarcAndrés IllanesAngelescu SilviuAntonio LuqueArnér MagnusArthur GriffthAugustin, SallyAven, TerjeAxler, SheldonBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBardi James A.Benoit, William L. And Pamela J.
BenoitBiermaBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBisgaard, Soren / Kulahci, MuratBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Brown Meta SBruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangByrnes, DavidCenter For Chemical Process
SaftetyCharles PetzoldChesbrough, HenryChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristopher NegusCi SongClark, Colin W.Conover, CharlesCoolidge Frederick L/ Wynn ThomasCooper Alan/ Reimann Robert/
Cronin DavidCrabtree, Robert H.CuthbertsonDeclerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDiamond, StephanieDimmokDirk P. KroeseDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggEsty, Daniel C. ; Winston, Andrew
S.Faticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Fester Kratz, Rene; Rae Siegfried,
DonnaFinkelstein Ellen/ Leete GurdyFinnerty J. D.Fredricks, Karen; Orenstein, LonFries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGianpaolo GhianiGilat AmosGläser, Michael And Manfred
KochsiekGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Grewal S. MochinderGygi CraigHakansson H.Hanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Haugen, PeterHebeler JohnHecht JeffHiam, AlexanderHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinHuges-Hallett; Gleason; Lock;
FlathIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkIrwin, William (Series Editor) ;
White D. ; Mark; Arp, RoberJ. Crawley, MichaelJ. David LoganJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJosip LovricJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKieso WeygandtKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kotler, PhilipKourdi, JeremyKuhn HansLadefoged, Peter And Sandra
Ferrari DisnerLangton, JerryLaurence Baber, RobertLefever LeeLeng YangLevinson, Jay Conrad; Horowitz,
ShelLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lowery, JosephLucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMark S. DaskinMark T. MayburyMcneil Brian/ Harvey LindaMeier, RetoMelnick, JeffreyMichael Thomas, K. L. MittalMilsom John J.Montgomery DouglasMontgomery, Douglas C.Moudgalya, Kannan M.MwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNed MohanNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Osterwalder, Alexander; Pigneur,
YvesPaschos, Vangelis Th. (Ed.)Pearlson, Keri E. ; Carol S.
SaundersPeckol, James K.Perry GilPeter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanR. J. CollierRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRicard ReidRobert E. LitanRobin K. HarrisRodriguez, JoseRoesky W. HerbertRolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRyan, MichaelSalvendy GavrielSaul StahlSchroder, Bernd S. W.Schroeder, Carol LScott RogersSeader; Henley; RoperSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Shank John D.Silverstein, David; Philip Samuel;
Neil DecarloSmirnov, Boris M.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSosinsky BarrieStahl SaulSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTrout, JackTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWalker John R.Wangler Thomas P.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWiley E. O.Wooldridge, MichaelWu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
A. ; Mcclish, Donna K.Ziska, Lewis H. ; Dukes, Jeffrey
S.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAllison, Lizabeth A.Alspector MarcAndrés IllanesAngelescu SilviuAntonio LuqueArnér MagnusArthur GriffthAugustin, SallyAven, TerjeAxler, SheldonBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBardi James A.Benoit, William L. And Pamela J.
BenoitBiermaBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBisgaard, Soren / Kulahci, MuratBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Brown Meta SBruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangByrnes, DavidCenter For Chemical Process
SaftetyCharles PetzoldChesbrough, HenryChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristopher NegusCi SongClark, Colin W.Conover, CharlesCoolidge Frederick L/ Wynn ThomasCooper Alan/ Reimann Robert/
Cronin DavidCrabtree, Robert H.CuthbertsonDeclerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDiamond, StephanieDimmokDirk P. KroeseDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggEsty, Daniel C. ; Winston, Andrew
S.Faticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Fester Kratz, Rene; Rae Siegfried,
DonnaFinkelstein Ellen/ Leete GurdyFinnerty J. D.Fredricks, Karen; Orenstein, LonFries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGianpaolo GhianiGilat AmosGläser, Michael And Manfred
KochsiekGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Grewal S. MochinderGygi CraigHakansson H.Hanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Haugen, PeterHebeler JohnHecht JeffHiam, AlexanderHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinHuges-Hallett; Gleason; Lock;
FlathIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkIrwin, William (Series Editor) ;
White D. ; Mark; Arp, RoberJ. Crawley, MichaelJ. David LoganJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJosip LovricJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKieso WeygandtKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kotler, PhilipKourdi, JeremyKuhn HansLadefoged, Peter And Sandra
Ferrari DisnerLangton, JerryLaurence Baber, RobertLefever LeeLeng YangLevinson, Jay Conrad; Horowitz,
ShelLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lowery, JosephLucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMark S. DaskinMark T. MayburyMcneil Brian/ Harvey LindaMeier, RetoMelnick, JeffreyMichael Thomas, K. L. MittalMilsom John J.Montgomery DouglasMontgomery, Douglas C.Moudgalya, Kannan M.MwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNed MohanNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Osterwalder, Alexander; Pigneur,
YvesPaschos, Vangelis Th. (Ed.)Pearlson, Keri E. ; Carol S.
SaundersPeckol, James K.Perry GilPeter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanR. J. CollierRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRicard ReidRobert E. LitanRobin K. HarrisRodriguez, JoseRoesky W. HerbertRolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRyan, MichaelSalvendy GavrielSaul StahlSchroder, Bernd S. W.Schroeder, Carol LScott RogersSeader; Henley; RoperSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Shank John D.Silverstein, David; Philip Samuel;
Neil DecarloSmirnov, Boris M.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSosinsky BarrieStahl SaulSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTrout, JackTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWalker John R.Wangler Thomas P.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWiley E. O.Wooldridge, MichaelWu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
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Última actualización: Jul 2019