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Resultados para Editorial: Wiley (91 a 100 de más de 200)
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Título | Weed Biology And Climate Change | Precio | $2175.00 |
| Autor | Ziska, Lewis H. ; Dukes, Jeffrey S. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Cambio Climatico, Biologia, Clima | ISBN | 9780813814179 |
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Título | Introduction To Heat Transfer, 6th Edition | Precio | $4224.00 |
| Autor | Theodore L. Bergman, Adrienne S. Lavine, Frank P. Incropera, | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 6ª | |
| Tema | Ingenieria, Ingenieria Mecanica, Termodinamica | ISBN | 9780470501962 |
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Título | Algebra And Trigonometry. (With Student Solutions Manual) | Precio | $550.00 |
| Autor | Axler, Sheldon | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Matematicas, Algebra, Trigonometria | ISBN | 9780470470824 |
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Título | Fundamentals Of Wavelets. Theory, Algorithms, And Applications | Precio | $1437.50 |
| Autor | Goswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew K. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Matematicas, Aplicaciones | ISBN | 9780470484135 |
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Título | Power Electronics: A First Course | Precio | $697.00 |
| Autor | Ned Mohan | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Electronica, Circuitos | ISBN | 9781118074800 |
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Título | Credit Risk Modeling Using Excel And Vba | Precio | $1520.00 |
| Autor | Loffler, Gunter; Posch, Peter N. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Finanzas | ISBN | 9780470660928 |
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Título | Introducing Proteomics: From Concepts To Sample Separation, Mass Spectrometry An | Precio | $747.00 |
| Autor | Josip Lovric | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Biologia Celular, Biologia Molecular | ISBN | 9780470035245 |
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Título | Thermally And Optically Stimulated Luminescence: A Simulation Approach | Precio | $2080.00 |
| Autor | Reuven Chen | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Optica, Fisica | ISBN | 9780470749272 |
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Título | Information Technology For Management | Precio | $1064.70 |
| Autor | Turban; Volonino | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Tecnologia | ISBN | 9780470917718 |
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Título | Software Engineering. Modern Approaches. Second Edition | Precio | $1120.00 |
| Autor | Braude, Eric J. ; Bernstein, Michael E. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Ingenieria, Software | ISBN | 9780471692089 |
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Autores
Adam AlexanderAgostino, R. D': P. Favia; Y.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAllison, Lizabeth A.Alspector MarcAndrés IllanesAngelescu SilviuAntonio LuqueArnér MagnusArthur GriffthAugustin, SallyAven, TerjeAxler, SheldonBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBardi James A.Benoit, William L. And Pamela J.
BenoitBiermaBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBisgaard, Soren / Kulahci, MuratBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Brown Meta SBruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangByrnes, DavidCenter For Chemical Process
SaftetyCharles PetzoldChesbrough, HenryChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristopher NegusCi SongClark, Colin W.Conover, CharlesCoolidge Frederick L/ Wynn ThomasCooper Alan/ Reimann Robert/
Cronin DavidCrabtree, Robert H.CuthbertsonDeclerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDiamond, StephanieDimmokDirk P. KroeseDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggEsty, Daniel C. ; Winston, Andrew
S.Faticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Fester Kratz, Rene; Rae Siegfried,
DonnaFinkelstein Ellen/ Leete GurdyFinnerty J. D.Fredricks, Karen; Orenstein, LonFries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGianpaolo GhianiGilat AmosGläser, Michael And Manfred
KochsiekGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Grewal S. MochinderGygi CraigHakansson H.Hanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Haugen, PeterHebeler JohnHecht JeffHiam, AlexanderHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinHuges-Hallett; Gleason; Lock;
FlathIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkIrwin, William (Series Editor) ;
White D. ; Mark; Arp, RoberJ. Crawley, MichaelJ. David LoganJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJosip LovricJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKieso WeygandtKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kotler, PhilipKourdi, JeremyKuhn HansLadefoged, Peter And Sandra
Ferrari DisnerLangton, JerryLaurence Baber, RobertLefever LeeLeng YangLevinson, Jay Conrad; Horowitz,
ShelLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lowery, JosephLucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMark S. DaskinMark T. MayburyMcneil Brian/ Harvey LindaMeier, RetoMelnick, JeffreyMichael Thomas, K. L. MittalMilsom John J.Montgomery DouglasMontgomery, Douglas C.Moudgalya, Kannan M.MwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNed MohanNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Osterwalder, Alexander; Pigneur,
YvesPaschos, Vangelis Th. (Ed.)Pearlson, Keri E. ; Carol S.
SaundersPeckol, James K.Perry GilPeter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanR. J. CollierRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRicard ReidRobert E. LitanRobin K. HarrisRodriguez, JoseRoesky W. HerbertRolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRyan, MichaelSalvendy GavrielSaul StahlSchroder, Bernd S. W.Schroeder, Carol LScott RogersSeader; Henley; RoperSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Shank John D.Silverstein, David; Philip Samuel;
Neil DecarloSmirnov, Boris M.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSosinsky BarrieStahl SaulSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTrout, JackTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWalker John R.Wangler Thomas P.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWiley E. O.Wooldridge, MichaelWu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
A. ; Mcclish, Donna K.Ziska, Lewis H. ; Dukes, Jeffrey
S.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAllison, Lizabeth A.Alspector MarcAndrés IllanesAngelescu SilviuAntonio LuqueArnér MagnusArthur GriffthAugustin, SallyAven, TerjeAxler, SheldonBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBardi James A.Benoit, William L. And Pamela J.
BenoitBiermaBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBisgaard, Soren / Kulahci, MuratBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Brown Meta SBruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangByrnes, DavidCenter For Chemical Process
SaftetyCharles PetzoldChesbrough, HenryChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristopher NegusCi SongClark, Colin W.Conover, CharlesCoolidge Frederick L/ Wynn ThomasCooper Alan/ Reimann Robert/
Cronin DavidCrabtree, Robert H.CuthbertsonDeclerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDiamond, StephanieDimmokDirk P. KroeseDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggEsty, Daniel C. ; Winston, Andrew
S.Faticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Fester Kratz, Rene; Rae Siegfried,
DonnaFinkelstein Ellen/ Leete GurdyFinnerty J. D.Fredricks, Karen; Orenstein, LonFries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGianpaolo GhianiGilat AmosGläser, Michael And Manfred
KochsiekGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Grewal S. MochinderGygi CraigHakansson H.Hanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Haugen, PeterHebeler JohnHecht JeffHiam, AlexanderHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinHuges-Hallett; Gleason; Lock;
FlathIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkIrwin, William (Series Editor) ;
White D. ; Mark; Arp, RoberJ. Crawley, MichaelJ. David LoganJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJosip LovricJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKieso WeygandtKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kotler, PhilipKourdi, JeremyKuhn HansLadefoged, Peter And Sandra
Ferrari DisnerLangton, JerryLaurence Baber, RobertLefever LeeLeng YangLevinson, Jay Conrad; Horowitz,
ShelLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lowery, JosephLucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMark S. DaskinMark T. MayburyMcneil Brian/ Harvey LindaMeier, RetoMelnick, JeffreyMichael Thomas, K. L. MittalMilsom John J.Montgomery DouglasMontgomery, Douglas C.Moudgalya, Kannan M.MwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNed MohanNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Osterwalder, Alexander; Pigneur,
YvesPaschos, Vangelis Th. (Ed.)Pearlson, Keri E. ; Carol S.
SaundersPeckol, James K.Perry GilPeter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanR. J. CollierRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRicard ReidRobert E. LitanRobin K. HarrisRodriguez, JoseRoesky W. HerbertRolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRyan, MichaelSalvendy GavrielSaul StahlSchroder, Bernd S. W.Schroeder, Carol LScott RogersSeader; Henley; RoperSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Shank John D.Silverstein, David; Philip Samuel;
Neil DecarloSmirnov, Boris M.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSosinsky BarrieStahl SaulSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTrout, JackTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWalker John R.Wangler Thomas P.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWiley E. O.Wooldridge, MichaelWu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Zhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
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Última actualización: Jul 2019