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Resultados para Editorial: Chapman & Hall / Crc, Tema: Mecatronica, Mecanica (1 a 1 de 1)
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portada Título Microstructural Randomness And Scaling In Mechanics Of Materials Precio $1400.00
Autor Ostoja-Starzewski, Martin Año 2007
Editorial Chapman & Hall / Crc Edición
Tema Mecanica, Mecatronica, Fisica ISBN 9781584884170

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Última actualización: Jul 2019