Tels.: DF (55) 55 54 94 02 • Cuernavaca (777) 102 83 86

Búsqueda


Resultados para Autor: Pham, Hoang, Editorial: Ieee (1 a 1 de 1)
Ordenar por: Título | Autor | Editorial | Tema | Precio | Año
portada Título Software Reliability & Testing Precio $525.00
Autor Pham, Hoang Año
Editorial Ieee Edición
Tema Ingenieria ISBN

Filtrar resultados

Nada que filtrar

Librería Bonilla SA de CV © Todos los derechos reservados. 2019
Última actualización: Jul 2019