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Resultados para Autor: Davier, A. A. Von / Holland, P. W. / Thayer, D. T., Tema: Estadistica (1 a 1 de 1)
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Título | Kernel Method Of Test Equating, The. - | Precio | $840.00 |
| Autor | Davier, A. A. Von / Holland, P. W. / Thayer, D. T. | Año | 2004 | |
| Editorial | Springer Publishing Company | Edición | 1ª | |
| Tema | Estadistica | ISBN | 0387019855 |
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Última actualización: Jul 2019