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Resultados para Editorial: Wiley (21 a 30 de más de 200)
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Título | Foundations And Earth Retaining Structures | Precio | $3165.00 |
| Autor | Budhu, Muni | Año | 2008 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Ciencias Sociales | ISBN | 9780471470120 |
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Título | Stochastic Geometry And Its Applications | Precio | $3142.78 |
| Autor | Sung Nok Chiu | Año | 2013 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 3ª | |
| Tema | Matematicas, Geometria, Probabilidades | ISBN | 9780470664810 |
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Título | Managerial Decisions Under Uncertainty An Introduction To The Analysis Of Decisi | Precio | $2960.00 |
| Autor | Baird, Bruce F. | Año | 1989 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | ISBN | 9780471858911 |
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Título | Industrial Plasma Technology | Precio | $2816.00 |
| Autor | Kawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato; A. Matsuda; K. Uchino; M. Ku | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | ISBN | 9783527325443 |
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Título | Loss Models From Data To Decisions | Precio | $2790.00 |
| Autor | Klugman Stuart A | Año | 2012 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2005 | |
| Tema | Estadistica, Matematicas, Probabilidades | ISBN | 9781118315323 |
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Título | Probability And Stochastic Processes | Precio | $2784.00 |
| Autor | Yates Roy D. | Año | 2014 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Probabilidades, Matematicas, Escuela | ISBN | 9781118324561 |
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Título | Design And Analysis Of Experiments | Precio | $2688.00 |
| Autor | Montgomery, Douglas C. | Año | 2012 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Biologia | ISBN | 9781118146927 |
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Título | Antenna Theory Analysis And Design | Precio | $2640.00 |
| Autor | Balanis, Constantine A. | Año | 2005 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | ISBN | 9780471667827 |
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Título | Multi-Way Analysis: Applications In The Chemical Sciences | Precio | $2610.00 |
| Autor | Age Smilde, Rasmus Bro, Paul Geladi | Año | 2004 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Matematicas, Quimica, Analisis | ISBN | 9780471986911 |
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Título | Carbon Materials For Catalysis | Precio | $2581.00 |
| Autor | Serp, Philippe; Figueiredo, Jose Luis (Eds.) | Año | 2009 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Carbon, Quimica, Fisica | ISBN | 9780470178850 |
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Autores
Aaker/ Kumar/ DayAdam AlexanderAdriaan Van Den BosAge Smilde, Rasmus Bro, Paul
GeladiAgostino, R. D': P. Favia; Y.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAlex GringauzAllen, Edward Ans Joseph IanoAllison, Lizabeth A.Alphonse ChapanisAndreas D. Baxevanis (Editor)Antonio LuqueAugustin, SallyAven, TerjeBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBaird, Bruce F.Balanis, Constantine A.Banerjee, Soumitro; Verghese,
George C.Bard, Allen J/ Faulkner, Larry RBenoit, William L. And Pamela J.
BenoitBhatti, M. AsgharBiermaBillingsley, PatrickBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBird, R. B. Stewart, E. W.
Lightfoot, E. W.Bisgaard, Soren / Kulahci, MuratBolch Gunter/ Greiner Stefan/ de
Meer Herman/ Trivedi KishBoyceBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Bruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangCenter For Chemical Process
SaftetyChalfie Martin/ Kain StevenChassaing, RulphChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristoph ElschenbroichClark, Colin W.Cochran, William G.Conover, CharlesCooker RogerCrabtree, Robert H.Cramer Christopher JCuthbertsonDamato Rik Carl/ Fletcher-Janzen
Elaine/ Reynolds Cecil RDavies, John; Studer, Rudi;
Warren, Paul (Eds.)Declerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggErickson MartinExner, John E. ; Philip ErdbergFaticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Felder Richard M/ Rousseau Ronald
W.Fenner RogerFinnerty J. D.Fries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGasiorowicz StephenGläser, Michael And Manfred
KochsiekGoldstein Alan MGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Hallet Hughes/ Gleason/ MccallumHanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Hecht JeffHenry Bouchet, Michel; Ephraim
Clark; Bertrand GroslambertHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkJ. David LoganJackson, John DavidJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJensen FrankJohansson Kaj/ Lundberg Peter/
Ryberg RobertJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kuhn HansLahann JoergLarose, Daniel T.Laurence Baber, RobertLeng YangLi FengLinder BrunoLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMaria AcasoMark S. DaskinMark T. MayburyMichael Thomas, K. L. MittalMilan PaunovicMontgomery, Douglas C.Morrison Ian D/ Ross SydneyMoudgalya, Kannan M.Moulijn, Jacob A. ; Makkee,
Michiel; Van Diepen, AnneliesMwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Odian GeorgePaschos, Vangelis Th. (Ed.)Peckol, James K.Peter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanPratt, Timothy; Bostian, Charles;
Allnutt, JeremyRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRobin K. HarrisRodriguez, JoseRogers Donald W.Rolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRoy J. GlauberSalvendy GavrielSaul StahlSchnoor Jerald LSchodek, Daniel; Martin Bechthold;
Kimo Griggs; Kenneth MartSchroder, Bernd S. W.Seader; Henley; RoperSeber, G. A. F. ; Wild, C. J.Seber, George A. F.Seborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Silver, MikeSilverstein Robert/ Webster
Francis X/ Kiemle David JSimon, DanSmirnov, Boris M.Solomon, Edward / Lever, A. B. P.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSpong, Mark W. ; Hutchinson, Seth;
Vidyasagar, M.Stahl SaulStahl Thomas/ Volter MarkusSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tom. WaighTony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWakita Osamu/ Linde RichardWalker John R.Wangler Thomas P.Wangsness, Roald K.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWhitford DavidWiley E. O.Wu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Young DavidZhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
A. ; Mcclish, Donna K.Ziska, Lewis H. ; Dukes, Jeffrey
S.Zomaya Albert Y
GeladiAgostino, R. D': P. Favia; Y.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; AnAlex GringauzAllen, Edward Ans Joseph IanoAllison, Lizabeth A.Alphonse ChapanisAndreas D. Baxevanis (Editor)Antonio LuqueAugustin, SallyAven, TerjeBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBaird, Bruce F.Balanis, Constantine A.Banerjee, Soumitro; Verghese,
George C.Bard, Allen J/ Faulkner, Larry RBenoit, William L. And Pamela J.
BenoitBhatti, M. AsgharBiermaBillingsley, PatrickBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe HemmeterBird, R. B. Stewart, E. W.
Lightfoot, E. W.Bisgaard, Soren / Kulahci, MuratBolch Gunter/ Greiner Stefan/ de
Meer Herman/ Trivedi KishBoyceBoyce, William E. ; Richard C.
DiprimaBrandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.Bruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangCenter For Chemical Process
SaftetyChalfie Martin/ Kain StevenChassaing, RulphChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, KevinChristoph ElschenbroichClark, Colin W.Cochran, William G.Conover, CharlesCooker RogerCrabtree, Robert H.Cramer Christopher JCuthbertsonDamato Rik Carl/ Fletcher-Janzen
Elaine/ Reynolds Cecil RDavies, John; Studer, Rudi;
Warren, Paul (Eds.)Declerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel LefrancoisDonald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. BeebeDuffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. BraggErickson MartinExner, John E. ; Philip ErdbergFaticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Felder Richard M/ Rousseau Ronald
W.Fenner RogerFinnerty J. D.Fries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, GeorgeGareth ThomasGasiorowicz StephenGläser, Michael And Manfred
KochsiekGoldstein Alan MGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.Greenberg, Michael D.Hallet Hughes/ Gleason/ MccallumHanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)Hecht JeffHenry Bouchet, Michel; Ephraim
Clark; Bertrand GroslambertHillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
RoesselHitt; Miller; ColellaHorst FriebolinIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkJ. David LoganJackson, John DavidJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. FosterJensen FrankJohansson Kaj/ Lundberg Peter/
Ryberg RobertJonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan WaalandJuvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. KuKeller, EricKennedy MichaelKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
WesselsKorpela, Seppo A.Kuhn HansLahann JoergLarose, Daniel T.Laurence Baber, RobertLeng YangLi FengLinder BrunoLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning RebMacadam, Jennifer W.Machin DavidMaria AcasoMark S. DaskinMark T. MayburyMichael Thomas, K. L. MittalMilan PaunovicMontgomery, Douglas C.Morrison Ian D/ Ross SydneyMoudgalya, Kannan M.Moulijn, Jacob A. ; Makkee,
Michiel; Van Diepen, AnneliesMwhNawin C. Mishra, Günter
BlobelNicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)Odian GeorgePaschos, Vangelis Th. (Ed.)Peckol, James K.Peter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanPratt, Timothy; Bostian, Charles;
Allnutt, JeremyRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchRamsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRobin K. HarrisRodriguez, JoseRogers Donald W.Rolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. TeugelsRothenberg, GadiRoy J. GlauberSalvendy GavrielSaul StahlSchnoor Jerald LSchodek, Daniel; Martin Bechthold;
Kimo Griggs; Kenneth MartSchroder, Bernd S. W.Seader; Henley; RoperSeber, G. A. F. ; Wild, C. J.Seber, George A. F.Seborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Silver, MikeSilverstein Robert/ Webster
Francis X/ Kiemle David JSimon, DanSmirnov, Boris M.Solomon, Edward / Lever, A. B. P.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
FryhleSpong, Mark W. ; Hutchinson, Seth;
Vidyasagar, M.Stahl SaulStahl Thomas/ Volter MarkusSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,Tom. WaighTony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin BossanyiToshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke InagiTourlakis, GeorgeTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-SantosVeronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWakita Osamu/ Linde RichardWalker John R.Wangler Thomas P.Wangsness, Roald K.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWhitford DavidWiley E. O.Wu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Young DavidZhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
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Última actualización: Jul 2019