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Resultados para Editorial: Wiley (1 a 10 de más de 200)
Ordenar por: Título | Autor | Editorial | Tema | Precio | Año
portada Título Encyclopedia Of Chemical Technology, Volumenes 1-26 Precio $6816.00
Autor Kirk-Othmer Año 2007
Editorial Wiley Edición
Tema Tecnologia ISBN 9780471484967
portada Título Combinatorial Optimization: 3-Volume Set Precio $6187.50
Autor Paschos, Vangelis Th. (Ed.) Año 2010
Editorial Wiley Edición
Tema ISBN 9781848211469
portada Título Handbook Of Metrology (2 Vols.) Precio $5390.00
Autor Gläser, Michael And Manfred Kochsiek Año 2010
Editorial Wiley Edición
Tema Ciencia ISBN 9783527406661
portada Título Handbook Of Photovoltaic Science And Engineering Precio $4095.00
Autor Antonio Luque Año 2011
Editorial Wiley Edición
Tema Energias Renovables ISBN 9780470721698
portada Título Advanced Plasma Technology Precio $3984.00
Autor Agostino, R. D': P. Favia; Y. Kawai; H. Ikegami; N. Sato; An Año 2008
Editorial Wiley Edición
Tema ISBN 9783527405916
portada Título Inorganic Electronic Structure And Spectroscopy: Methodology (Vol. 1 ) Precio $3875.00
Autor Solomon, Edward / Lever, A. B. P. Año 2006
Editorial Wiley Edición
Tema Medicina, Quimica, Patologia ISBN 9780471971245
portada Título Quantum Theory Of Optical Coherence: Selected Papers And Lectures Precio $3840.00
Autor Roy J. Glauber Año 2007
Editorial Wiley Edición
Tema Fisica, Astronomia, Optica ISBN 9783527406876

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Autores

Aaker/ Kumar/ DayAdam AlexanderAdriaan Van Den BosAge Smilde, Rasmus Bro, Paul
Geladi
Agostino, R. D': P. Favia; Y.
Kawai; H. Ikegami; N. Sato; An
Alex GringauzAllen, Edward Ans Joseph IanoAllison, Lizabeth A.Alphonse ChapanisAndreas D. Baxevanis (Editor)Antonio LuqueAugustin, SallyAven, TerjeBadi H. BaltagiBahadori AlirezaBaird, Bruce F.Balanis, Constantine A.Banerjee, Soumitro; Verghese,
George C.
Bard, Allen J/ Faulkner, Larry RBenoit, William L. And Pamela J.
Benoit
Bhatti, M. AsgharBiermaBillingsley, PatrickBillo, J.Bindner, Donald; Martin J.
Erickson; Joe Hemmeter
Bird, R. B. Stewart, E. W.
Lightfoot, E. W.
Bisgaard, Soren / Kulahci, MuratBolch Gunter/ Greiner Stefan/ de
Meer Herman/ Trivedi Kish
BoyceBoyce, William E. ; Richard C.
Diprima
Brandon D.Braude, Eric J. ; Bernstein,
Michael E.
Bruno SericolaBryan M. HamBudhu, MuniByoung Kyu Choi, Donghun KangCenter For Chemical Process
Saftety
Chalfie Martin/ Kain StevenChassaing, RulphChristian, Gary / Dasgupta,
Purnendu / Schug, Kevin
Christoph ElschenbroichClark, Colin W.Cochran, William G.Conover, CharlesCooker RogerCrabtree, Robert H.Cramer Christopher JCuthbertsonDamato Rik Carl/ Fletcher-Janzen
Elaine/ Reynolds Cecil R
Davies, John; Studer, Rudi;
Warren, Paul (Eds.)
Declerck PhilippeDevlin Thomas MDhatt, Gouri; Gilbert Touzot;
Emmanuel Lefrancois
Donald T. Sawyer; William R. ,
Heineman; Janicem. Beebe
Duffie John AEduardo G. YukiharaEnders, WalterEpstein, Barry J. ; Ralph Nach;
Steven M. Bragg
Erickson MartinExner, John E. ; Philip ErdbergFaticoni Theodore G.Faticoni, Theodore G.Felder Richard M/ Rousseau Ronald
W.
Fenner RogerFinnerty J. D.Fries, ChristianFske Susan T.Furlong C. JudithG. Strawn, Daniel / L. Bohn,
Hinrich / A, O'connor, George
Gareth ThomasGasiorowicz StephenGläser, Michael And Manfred
Kochsiek
Goldstein Alan MGolnaraghi, Farid; Benjamin C. KuoGorroochurn, PrakashGoswami, Jaideva C. ; Chan, Andrew
K.
Greenberg, Michael D.Hallet Hughes/ Gleason/ MccallumHanrahan, Grady; Gomez, Frank A.
(Eds.)
Hecht JeffHenry Bouchet, Michel; Ephraim
Clark; Bertrand Groslambert
Hillen, T. ; I. E. Leonard; H. Van
Roessel
Hitt; Miller; ColellaHorst FriebolinIano JosephIrwin, David J. ; Nelms, R. MarkJ. David LoganJackson, John DavidJames F. EppersonJames Welty, Gregory L. Rorrer And
David G. Foster
Jensen FrankJohansson Kaj/ Lundberg Peter/
Ryberg Robert
Jonathan PevsnerJones, Russell; Helen Ougham;
Howard Thomas; Susan Waaland
Juvinall, Robert C. ; Marshek,
Kurt M.
Karp GeraldKatoh ShigeoKawai, Y. ; H. Ikegami; N. Sato;
A. Matsuda; K. Uchino; M. Ku
Keller, EricKennedy MichaelKirk-OthmerKlugman Stuart AKoller, Tim; Marc Goedhart; David
Wessels
Korpela, Seppo A.Kuhn HansLahann JoergLarose, Daniel T.Laurence Baber, RobertLeng YangLi FengLinder BrunoLoffler, Gunter; Posch, Peter N.Lucas Douglas/ Goodman Laurie/
Fabozzi Frank/ Manning Reb
Macadam, Jennifer W.Machin DavidMaria AcasoMark S. DaskinMark T. MayburyMichael Thomas, K. L. MittalMilan PaunovicMontgomery, Douglas C.Morrison Ian D/ Ross SydneyMoudgalya, Kannan M.Moulijn, Jacob A. ; Makkee,
Michiel; Van Diepen, Annelies
MwhNawin C. Mishra, Günter
Blobel
Nicholson, Keith W.Nutt, Paul C. ; Wilson, David C.
(Eds.)
Odian GeorgePaschos, Vangelis Th. (Ed.)Peckol, James K.Peter BloomfieldPhilip J. PritchardPoslad, StefanPratt, Timothy; Bostian, Charles;
Allnutt, Jeremy
Rainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. Sch
Ramsey/ SleeperRebaza, JorgeReuven ChenRobin K. HarrisRodriguez, JoseRogers Donald W.Rolski, T. ; H. Schmidli; V.
Schmidt; J. Teugels
Rothenberg, GadiRoy J. GlauberSalvendy GavrielSaul StahlSchnoor Jerald LSchodek, Daniel; Martin Bechthold;
Kimo Griggs; Kenneth Mart
Schroder, Bernd S. W.Seader; Henley; RoperSeber, G. A. F. ; Wild, C. J.Seber, George A. F.Seborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)
Silver, MikeSilverstein Robert/ Webster
Francis X/ Kiemle David J
Simon, DanSmirnov, Boris M.Solomon, Edward / Lever, A. B. P.Solomons, Graham T. W. ; Craig B.
Fryhle
Spong, Mark W. ; Hutchinson, Seth;
Vidyasagar, M.
Stahl SaulStahl Thomas/ Volter MarkusSteed Jonathan/ Atwood JerrySung Nok ChiuSze S. M.Tamhane, Ajit C.Theodore L. Bergman, Adrienne S.
Lavine, Frank P. Incropera,
Tom. WaighTony Burton, Nick Jenkins, David
Sharpe, Ervin Bossanyi
Toshio Fuchigami, Mahito Atobe,
Shinsuke Inagi
Tourlakis, GeorgeTurban; VoloninoUdell ChadValeur, Bernard And Mario N.
Berberan-Santos
Veronika R. MeyerVoet, Donald; Judith G. VoetVolkhard HelmsWakita Osamu/ Linde RichardWalker John R.Wangler Thomas P.Wangsness, Roald K.Ward C. WheelerWebster John G.Weston M. StaceyWhitford DavidWiley E. O.Wu , BinWyatt Paul/ Warren StuartXin-She YangYates Roy D.Young DavidZhou, Xiao-Hua; Obuchowski, Nancy
A. ; Mcclish, Donna K.
Ziska, Lewis H. ; Dukes, Jeffrey
S.
Zomaya Albert Y

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Última actualización: Jul 2019