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Resultados para Editorial: Wiley, Tema: Fisica (11 a 20 de 22)
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Título | Thermally And Optically Stimulated Luminescence: A Simulation Approach | Precio | $2080.00 |
| Autor | Reuven Chen | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Optica, Fisica | ISBN | 9780470749272 |
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Título | Sample Size Tables For Clinical Studies | Precio | $1920.00 |
| Autor | Machin David | Año | 2009 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 3ª | |
| Tema | Fisica | ISBN | 9781405146500 |
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Título | Fusion Plasma Physics | Precio | $2004.75 |
| Autor | Weston M. Stacey | Año | 2012 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Fisica, Teorias | ISBN | 9783527411344 |
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Título | Low Temperature Plasmas: Fundamentals, Technologies And Techniques (2 Volume Set | Precio | $6196.50 |
| Autor | Rainer Hippler, Holger Kersten, Martin Schmidt, Karl H. Sch | Año | 2008 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 2ª | |
| Tema | Fisica, Tecnologia | ISBN | 9783527406739 |
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Título | Kalman Filtering Theory And Practice Using Matlab | Precio | Desconocido |
| Autor | Grewal S. Mochinder | Año | 2008 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 3ª | |
| Tema | Fisica, Matematicas, Matematicas Aplicadas | ISBN | 9780470173664 |
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Título | Field Geophysics | Precio | $475.48 |
| Autor | Milsom John J. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Fisica, Geofisica, Geociencias | ISBN | 9780470749845 |
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Título | Semiconductor Devises: Physics And Technology | Precio | $1946.95 |
| Autor | Sze S. M. | Año | 2011 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Fisica, Tecnologia | ISBN | 9780470537947 |
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Título | Rf Linear Accelerators | Precio | $1601.60 |
| Autor | Wangler Thomas P. | Año | 2008 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Ciencia, Fisica, Matematicas Aplicadas | ISBN | 9783527406807 |
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Título | Understanding Lasers: An Entry - Level Guide | Precio | $1037.29 |
| Autor | Hecht Jeff | Año | 2010 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Fisica, Matematicas Aplicadas, Ciencia | ISBN | 9780470088906 |
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Título | Materials Characterization: Introduction To Microscopy And Spectroscopy Methods | Precio | $1365.00 |
| Autor | Leng Yang | Año | 2008 | |
| Editorial | Wiley | Edición | 1ª | |
| Tema | Fisica, Ciencia | ISBN | 9783527334636 |
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Autores
Arons, ArnoldBrandon D.Eduardo G. YukiharaGrewal S. MochinderHecht JeffHolzner, Steven, PhdJackson, John DavidKittel, CharlesLeng YangLinder BrunoMachin DavidMilsom John J.Odian GeorgeRainer Hippler, Holger Kersten,
Martin Schmidt, Karl H. SchReuven ChenRoy J. GlauberSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Sze S. M.Tamhane, Ajit C.Wangler Thomas P.Weston M. Stacey
Martin Schmidt, Karl H. SchReuven ChenRoy J. GlauberSeborg/ Edgar/ Mellichamp/ DoyleSerp, Philippe; Figueiredo, Jose
Luis (Eds.)Sze S. M.Tamhane, Ajit C.Wangler Thomas P.Weston M. Stacey
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Última actualización: Jul 2019