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Resultados para Editorial: John Wiley & Sons Inc., Tema: Ingenieria (1 a 10 de 130)
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Título | Essentials Of Mechatronics | Precio | $1242.00 |
| Autor | Billingsley, John | Año | 2005 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 1ª | |
| Tema | Mecatronica, Ingenieria, Mecanica | ISBN | 9780471723417 |
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Título | Mechatronic Systems: Modelling And Simulation With Hdls | Precio | $2080.00 |
| Autor | Pelz, Georg | Año | 2003 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 1ª | |
| Tema | Mecatronica, Sistemas, Ingenieria | ISBN | 9780470849798 |
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Título | An Introduction To Materials Engineering And Science For Chemical And Materials | Precio | $3120.00 |
| Autor | Brian S. Mitchell | Año | 2003 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 1ª | |
| Tema | Materiales, Ingenieria, Ingenieria Quimica | ISBN | 9780471436232 |
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Título | Array And Phased Array Antenna Basics | Precio | $1820.00 |
| Autor | Visser, Hubregt | Año | 2005 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 1ª | |
| Tema | Sistemas, Ingenieria, Computacion | ISBN | 9780470871171 |
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Título | System Dynamics: Modeling And Simulation Of Mechatronic Systems | Precio | $1430.00 |
| Autor | Karnopp / Margolis | Año | 2006 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 4ª | |
| Tema | Sistemas, Ingenieria, Mecatronica | ISBN | 9780471709657 |
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Título | Scaling Analysis In Modeling Transport And Reaction Processes. A Systematic | Precio | $1265.00 |
| Autor | Krantz, William | Año | 2007 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 1ª | |
| Tema | Analisis, Ingenieria, Arte | ISBN | 9780471772613 |
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Título | Compact And Broadband Microstrip Antennas. | Precio | $1612.00 |
| Autor | Wong, Kin-Lu. | Año | 2002 | |
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 1ª | |
| Tema | Comunicacion, Ingenieria, Tecnologia | ISBN | 9780471417170 |
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Título | Principles Of Engineering Economy | Precio | $408.00 |
| Autor | Grant Ireson Leavenworth | Año | ||
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | ||
| Tema | Ingenieria | ISBN |
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Título | Digital Telephony | Precio | $1350.00 |
| Autor | Bellamy, John C | Año | ||
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | 2ª | |
| Tema | Ingenieria | ISBN |
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Título | Instrumentation For Engineering Measurem | Precio | $1396.00 |
| Autor | Dally | Año | ||
| Editorial | John Wiley & Sons Inc. | Edición | ||
| Tema | Ingenieria | ISBN |
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Autores
Acha, Enrique; Fuerte-Esquivel,
Claudio R. ; Ambriz-Perez, HuAnderson / FouadArrillaga Jos/ Watson NevilleAsfahl, RayAskin / StandridgeBahadori AlirezaBaltagi, BadiBejan, Adrian / Tsatsaronis,
George / Moran, MichaelBellamy, John CBerger StefanBhattacharyya, Arun K.Billingsley, JohnBorchers, JanBoysen / MuirBraude, E. J.Brian S. MitchellBrown RexBrown, David W.Callen HerbertChapanis AlphonseCheckland / ScholesCheckland, PeterChemat FaridChirlianChow TaiCochranConahanCook RobertCrawfordDallyDereniakDuffie John/ Beckman WilliamDymEatas AtilaEisner HowardFlinn, R. A.Ghavami / Michael / KohnoGoodismanGordon JosephGrant Ireson LeavenworthGreenwood AllanHaile, J. M.Hammes GordonHansen, R. C.HarrisHarris / SollisHaykin SimonHaytHill CharlesHobbs PhilipHoeschele, David F.HuebnerIncroperaIngham / DunnInmon, W. H.Irani, Shahrukh A.Jefesson / PerssonJohn M. VanceJohnsonKaisler, StephenKaplan, IlyaKapurKarnopp / MargolisKarnopp DeanKim Hyoung-Gook/ Moreau Nicolas/
Sikora ThomasKinsler LawrenceKlotz IrvingKrantz, WilliamKrausKuo / GolnaraghiKutz, MyerLaseau, PaulLogan Bruce E.Lopez HigueraLuyben, William L.Manassewitsch, VadimMark MontroseMohan / UndelandMontgomery Douglas C.MorrisonNicollianOttinger HansPalm III, WulliamPark, Chan S. / Sharp Bette,
Gunter P.Paul, ClaytonPawlowskiPelz, GeorgPessen, David W.Petrou / Garcia SevillaPham, Tho QuangPhillips, Chandler A.Pierre / Bioul / SutterPihlaja KaleviProud, John F.RabinowiczReingruberReklaitisRobert HeidersbachRoy BimalenduRussell AllanSackinger, EducardSalvendySastri, V. SSchroder DieterSeider / LewinSen, P. C.Seybold, JohnShapiro HowardSilverston , LenSilverston, LenSkogestad SigurdSmith, D.Sonntag / BorgnakkeSpong MarkSze / NgTilleyTompkins / WhiteUdd, EricUlrich / BrownValeur BernardValiere Jean-ChristopheVan Vliet, HansVisser, HubregtVogtle FretzWeastermeier-NavenWeaver WilliamWong, Kin-Lu.Wyke, R. Allen
Claudio R. ; Ambriz-Perez, HuAnderson / FouadArrillaga Jos/ Watson NevilleAsfahl, RayAskin / StandridgeBahadori AlirezaBaltagi, BadiBejan, Adrian / Tsatsaronis,
George / Moran, MichaelBellamy, John CBerger StefanBhattacharyya, Arun K.Billingsley, JohnBorchers, JanBoysen / MuirBraude, E. J.Brian S. MitchellBrown RexBrown, David W.Callen HerbertChapanis AlphonseCheckland / ScholesCheckland, PeterChemat FaridChirlianChow TaiCochranConahanCook RobertCrawfordDallyDereniakDuffie John/ Beckman WilliamDymEatas AtilaEisner HowardFlinn, R. A.Ghavami / Michael / KohnoGoodismanGordon JosephGrant Ireson LeavenworthGreenwood AllanHaile, J. M.Hammes GordonHansen, R. C.HarrisHarris / SollisHaykin SimonHaytHill CharlesHobbs PhilipHoeschele, David F.HuebnerIncroperaIngham / DunnInmon, W. H.Irani, Shahrukh A.Jefesson / PerssonJohn M. VanceJohnsonKaisler, StephenKaplan, IlyaKapurKarnopp / MargolisKarnopp DeanKim Hyoung-Gook/ Moreau Nicolas/
Sikora ThomasKinsler LawrenceKlotz IrvingKrantz, WilliamKrausKuo / GolnaraghiKutz, MyerLaseau, PaulLogan Bruce E.Lopez HigueraLuyben, William L.Manassewitsch, VadimMark MontroseMohan / UndelandMontgomery Douglas C.MorrisonNicollianOttinger HansPalm III, WulliamPark, Chan S. / Sharp Bette,
Gunter P.Paul, ClaytonPawlowskiPelz, GeorgPessen, David W.Petrou / Garcia SevillaPham, Tho QuangPhillips, Chandler A.Pierre / Bioul / SutterPihlaja KaleviProud, John F.RabinowiczReingruberReklaitisRobert HeidersbachRoy BimalenduRussell AllanSackinger, EducardSalvendySastri, V. SSchroder DieterSeider / LewinSen, P. C.Seybold, JohnShapiro HowardSilverston , LenSilverston, LenSkogestad SigurdSmith, D.Sonntag / BorgnakkeSpong MarkSze / NgTilleyTompkins / WhiteUdd, EricUlrich / BrownValeur BernardValiere Jean-ChristopheVan Vliet, HansVisser, HubregtVogtle FretzWeastermeier-NavenWeaver WilliamWong, Kin-Lu.Wyke, R. Allen
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Última actualización: Jul 2019